JGX-2大型工具顯微鏡是一種以影象法作為測量基礎(chǔ)的精密光學(xué)測量儀器，加上測刀也能以軸切法來進生更精確的測量。儀器備有多種附件，從而使測量項目有所增加。并配備不同的放大倍率，以便對微小工件也能作精確的測定，在儀器上配裝附加的投影設(shè)備后，還可作為輪廓投影儀使用。

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　　JGX-1型小型工具顯微鏡是以影像法為測量原理的具有繁用性的精密光學(xué)計量儀器之一。測量范圍廣、精確可靠、操作方便。因而特別適用于精密機械制造與工具制造工業(yè)。

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　　IM系列工具顯微鏡能方便地讀取千分表頭示值，測量工件的孔徑、孔距等尺寸以及角度、使用任選的目鏡組還能檢驗螺紋以及齒輪形狀等。設(shè)計非常緊湊、重量輕、最適合設(shè)置在加工現(xiàn)場受到限制的場所.

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　　6W阿貝比較儀是基于阿貝原理而設(shè)計制造的高精度長度計量儀器。該儀器主要用于測量二線之間的距離及平面上兩點之間的距離：如對200mm以下短標(biāo)尺的檢定；對光譜圓形及光學(xué)儀器中的分劃板的精密測量等等。并可作為攝譜儀的成套附件。

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　　107JPC測量顯微鏡小型、多用途的精密測量顯微鏡，結(jié)構(gòu)緊湊、成像清晰、精度高，可作二維坐標(biāo)的精密測量，及Z向的輔助測量。儀器帶有可調(diào)光的落射、透射和輔助照明裝置及多種濾色鏡，給各種復(fù)雜形狀的測量工作帶來很大方便。

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　　107JA測量顯微鏡是一種小型的能進行二維測量的計量儀器，儀器主要采用透、反射照明方式，通過觀察和數(shù)顯系統(tǒng)對精密的幾何量（長度、角度）進行觀察、分析、測量。特別使用于錄像機磁鼓、大規(guī)模集成電路線寬、小型零件（如鐘表零件）及其他精密幾何參數(shù)的數(shù)量。

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　　1.直角坐標(biāo)中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔外圓直徑等等。2.轉(zhuǎn)動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規(guī)，鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進行角度測量。

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　　直角座標(biāo)中測定長度，例如：測定孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑等等。轉(zhuǎn)動度盤測定角度，例如：對刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進行角度測量。

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　　讀數(shù)顯微鏡JC4-10是種袖珍型便攜式的顯微測量儀器。對粉末顆粒、表面凹坑、劃痕、斷層、涂面厚度等在線質(zhì)控檢測之用。其測微目鏡部件還可以配各種復(fù)雜光學(xué)目視儀器上作讀數(shù)顯微測量之用。

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　　讀數(shù)顯微鏡JC-10是種袖珍型便攜式的顯微測量儀器。對粉末顆粒、表面凹坑、劃痕、斷層、涂面厚度等在線質(zhì)控檢測之用。其測微目鏡部件還可以配各種復(fù)雜光學(xué)目視儀器上作讀數(shù)顯微測量之用。

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　　便攜式金相顯微鏡由于自帶垂直照明光源，可以很方便的用于現(xiàn)場或無法制作試樣時鑒別各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)可廣泛的應(yīng)用在工廠，實驗室進行鑄件質(zhì)量的鑒定，原材料檢驗或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鸾M織的研究分析等工作，也可以用作古董寶石及作表面細微觀察之用。

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　　便攜式金相顯微鏡由于自帶垂直照明光源，可以很方便的用于現(xiàn)場或無法制作試樣時鑒別各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)可廣泛的應(yīng)用在工廠，實驗室進行鑄件質(zhì)量的鑒定，原…

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　　本顯微鏡作為高級金相顯微鏡使用，是針對半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、冶金工業(yè)開發(fā)的，可用來鑒別和分析各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)。

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　　高清晰度和強立體感并且連續(xù)變倍體視顯微鏡不僅可作教學(xué)示范，還適用電子線路板、芯片封裝；臨床手術(shù)、生物解剖；巖礦樣本分析、珠寶鑒定；教學(xué)示范；微小精密零件檢驗、裝配、修理；農(nóng)業(yè)選種；紡織品檢驗；養(yǎng)殖業(yè)育苗、病理分析；公安、銀行痕跡比對。

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　　SX-4實體顯微鏡是一款高性價比的顯微鏡檢測產(chǎn)品，本儀器性能可靠、操作簡便、且外形美觀，不僅可用作教學(xué)示范、生物解剖、公安部門做觀察分析使用，還可用作電子工業(yè)精密零件裝配、硅晶片的檢驗以及農(nóng)業(yè)上的種種檢驗等。

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　　SX系列連續(xù)變倍體視顯微鏡主要用于產(chǎn)品的宏觀檢驗,能夠檢驗斷口內(nèi)的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋）、裂口、縱向裂紋、焊接不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。

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　　SX系列連續(xù)變倍體視顯微鏡主要用于產(chǎn)品的宏觀檢驗,能夠檢驗斷口內(nèi)的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋）、裂口、縱向裂紋、焊接不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。

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　　正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

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　　產(chǎn)品用途大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業(yè)大面積集成電路，晶片的質(zhì)量檢測而設(shè)計開發(fā)制造的，主體為正置式，三目鏡筒，比傳統(tǒng)的顯微鏡更適合于觀察。適用于電子、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術(shù)檢驗、失效分析等。

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　　59XD透反射礦相顯微鏡是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校最常用的專業(yè)實驗儀器之一，用于不透明物體或半透明物體，可以同時采用透射光和反射光觀察.近年來，隨著光學(xué)技術(shù)的不斷進步，作為光學(xué)儀器的偏光顯微鏡，其應(yīng)用也越來越廣泛。

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