本文標題:偏光顯微鏡觀測物體的時候使用正交檢偏位屬于雙折射體
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2015-11-23 16:53:43
偏光顯微鏡觀測物體的時候使用正交檢偏位屬于雙折射體
一般情況下，使用正交檢偏位下進行試樣的觀測的話，
使用的都是雙折射體進行的，這樣的檢測會出現不同的
效果，如下說說不同的情況，
首先，如果是在正交檢偏位對試樣進行觀測的話，其視
場中不會看到單折射體進行物體的觀測，檢測的物體中都
是雙折射體，這樣就可以在觀測中看到物體所發出的光，
雙折射體觀測的物體都是正交檢偏位下進行的，使用的
載物臺也是旋轉的，雙折射體的成像是需要進行360度的
旋轉的，這樣就會形成很鮮明的明暗對比，
每一次變化的旋轉的度數是在90度，這樣就會出現變暗
的位置，稱這樣的位置為消光，然后在此位置上進行45度的
旋轉，就會出現試樣的最亮位置，稱這樣的位置為對角位置。
將本頁加入收藏
下一篇：了解微分干涉差顯微鏡是如何進行鏡檢具體步驟如何
上一篇：了解偏光顯微鏡觀測物體的原理專業廠家的儀器知識
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.renziyi.cn/xinwen/1961.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
