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本文標題:硅氧烷涂層和在紙中涂覆樣品檢測顯微鏡

信息分類:行業動態　新聞來源：未知發布時間：2017-10-3 23:31:36

硅氧烷涂層和在紙中涂覆樣品檢測顯微鏡

為了確保達到最佳激發，如果用途不同寸，采用不同的放射性

同位素很有必要。對硅氧烷涂層和在紙中的二氧化鈦，采用鐵—55

(Fe—55)源-因為鐵—55的X射線比較柔和(低能量)，不會在試樣中

穿越很遠。而對于在膜上的銀，則采用能量更高的镅—241源。

將試樣放置在距離輻射源僅幾毫米處，以達到比較高的靈敏度

。試樣距激發源越近，對試樣的輻射越有效。低能X射線(如硅元素

的X射線)很容易被環境吸收，應當進行氦凈化。必要時，選擇最佳

輻射和氦凈化，大多數試樣的計量時間一般在2nfin之內。

可以將不同元素和材料的校準曲線直接存儲在儀器中以備調用

。校準曲線是通過測試一套已知試樣或同一材料的標準試樣建立起

來的，因為XFR是一項比較技術，所以，后續的分析工作與所使用

的校準曲線的精確度有關：

整體累積強度實際上是被分析元素和背景材料信號的合并，背

景強度可以隨著材料的厚度或基礎質量變化。可以通過測試未涂覆

或空白試樣測定其中的差別，測定結果將自動合并到校準曲線。