CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。它廣泛用于機械、儀表、電子、輕工等行業院校、研究所、計量檢定部門。

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　　CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。它廣泛用于機械、儀表、電子、輕工等行業院校、研究所、計量檢定部門。

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　　CPJ-4025Wφ400mm臥式投影儀是一種集光、機、電、電腦一體化的精密高效光學計量儀器。在透射光照明下，輪廓測量誤差小于0.08%。它被廣泛應用于機械、模具、工具、儀表、電子、輕工等行業，是計量室和生產車間不可缺少的一種計量檢定設備

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　　CPJ-3020Wφ300mm臥式投影儀是一種集光、機、電、電腦一體化的精密高效光學計量儀器。在透射光照明下，輪廓測量誤差小于0.08%。

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　　CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。儀器光學質量優良，物鏡成清晰，放大倍率準確。

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　　CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。儀器光學質量優良，物鏡成清晰，放大倍率準確。

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　　CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。儀器光學質量優良，物鏡成清晰，放大倍率準確。

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　　CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。儀器光學質量優良，物鏡成清晰，放大倍率準確。

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　　本顯微鏡作為高級金相顯微鏡使用，是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業開發的，可用來鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構，可廣泛應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定、原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析等工作。

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　　19J系列儀器屬計量儀器的經典機型，幾乎包括了所有幾何量檢測的一切手段，儀器功能全、精度高及操作簡便、經久耐用，是精密機械行業的常規裝備，也是各級技術監督、計量檢測部門的有效檢測依據，是科研、教學領域的得力助手。

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　　19J系列儀器屬計量儀器的經典機型，幾乎包括了所有幾何量檢測的一切手段，儀器功能全、精度高及操作簡便、經久耐用，是精密機械行業的常規裝備，也是各級技術監督、計量檢測部門的有效檢測依據，是科研、教學領域的得力助手。

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　　JGX-2大型工具顯微鏡是一種以影象法作為測量基礎的精密光學測量儀器，加上測刀也能以軸切法來進生更精確的測量。儀器備有多種附件，從而使測量項目有所增加。并配備不同的放大倍率，以便對微小工件也能作精確的測定，在儀器上配裝附加的投影設備后，還可作為輪廓投影儀使用。

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　　JGX-1型小型工具顯微鏡是以影像法為測量原理的具有繁用性的精密光學計量儀器之一。測量范圍廣、精確可靠、操作方便。因而特別適用于精密機械制造與工具制造工業。

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　　IM系列工具顯微鏡能方便地讀取千分表頭示值，測量工件的孔徑、孔距等尺寸以及角度、使用任選的目鏡組還能檢驗螺紋以及齒輪形狀等。設計非常緊湊、重量輕、最適合設置在加工現場受到限制的場所.

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　　6W阿貝比較儀是基于阿貝原理而設計制造的高精度長度計量儀器。該儀器主要用于測量二線之間的距離及平面上兩點之間的距離：如對200mm以下短標尺的檢定；對光譜圓形及光學儀器中的分劃板的精密測量等等。并可作為攝譜儀的成套附件。

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　　107JPC測量顯微鏡小型、多用途的精密測量顯微鏡，結構緊湊、成像清晰、精度高，可作二維坐標的精密測量，及Z向的輔助測量。儀器帶有可調光的落射、透射和輔助照明裝置及多種濾色鏡，給各種復雜形狀的測量工作帶來很大方便。

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　　107JA測量顯微鏡是一種小型的能進行二維測量的計量儀器，儀器主要采用透、反射照明方式，通過觀察和數顯系統對精密的幾何量（長度、角度）進行觀察、分析、測量。特別使用于錄像機磁鼓、大規模集成電路線寬、小型零件（如鐘表零件）及其他精密幾何參數的數量。

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　　1.直角坐標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔外圓直徑等等。2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

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　　直角座標中測定長度，例如：測定孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑等等。轉動度盤測定角度，例如：對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

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　　讀數顯微鏡JC4-10是種袖珍型便攜式的顯微測量儀器。對粉末顆粒、表面凹坑、劃痕、斷層、涂面厚度等在線質控檢測之用。其測微目鏡部件還可以配各種復雜光學目視儀器上作讀數顯微測量之用。

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